Главная

Объявления

Контакты

ENGLISH

Физическая электроника

Руководитель: проф. А. М. Шикин

Направление Физическая электроника - рук. проф. Александр Михайлович Шикин,

Шикин Александр Михайлович, докт. ф.-м. наук, проф.	Адамчук Вера Константиновна, докт. ф.-м. наук, проф., зав. лабораторией «Физическая электроника» с 1988 г. по 2010 г.	Владимиров Георгий Георгиевич, докт. ф.-м. наук, проф.

Рыбкин Артем Геннадиевич, канд. ф.-м. наук, ст. научн. сотр,, Директор Ресурсного Центра «Физические методы исследования поверхности»	Усачев Дмитрий Юрьевич, канд. ф.-м. наук, доцент, ст. научн. сотр,	Рыбкина Анна Алексеевна, зам. по организационным вопросам

Методики научных исследований, используемые в лаборатории в настоящее время и основные направления исследований

1.      Фотоэлектронная спектроскопия внутренних уровней и валентной зоны

2.      Фотоэлектронная спектроскопия с применением синхротронного излучения

3.      Фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением

4.      Фотоэлектронная спектроскопия со спиновым разрешением

5.      Оже-электронная спектроскопия с участием электронов внутренних уровней и валентной зоны

6.      Спектроскопия потенциалов появления и исчезновения в областях порогов ионизации внутренних уровней, включая спектроскопию упругого отражения

7.      Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов

8.      Дифракция медленных электронов

9.      Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия

10.  Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов

11.  Автоэлектронная микроскопия

Оборудование, имеющееся в настоящее время в лаборатории для проведения научных исследований и выполнения студенческих бакалаврских, магистерских и аспирантских работ

1.      Комплексный рентгено-электронный и оже-электронный спектрометр Kratos 800

Спектрометр позволяет проводить исследования методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии внутренних уровней для элементного и химического анализа и растровой оже-спектроскопии – для анализа распределения химических элементов по поверхности наносистем и наноструктурированных объектов.

Система двухкамерного типа с возможностью перезарядки образцов с атмосферы, не нарушая вакуумных условий. Система обеспечивает возможность формирования наносистем методом вакуумного напыления различных веществ непосредственно в процессе изучения наносистем, а также синтеза графен-содержащих систем методом крекинга углеводородов. Имеется возможность масс-спектрометрического состава остаточных газов и проведение термодесорбционных измерений. Энергия фотонов при измерениях методом рентгеноэлектронной спектроскопии – 1253.6 и 1486.6 эВ. Энергия первичных электронов в методе оже-электронной спектроскопии от 1000 до 5000 эВ.

2. Комплексный электронный спектрометр ESCAlab

Спектрометр позволяет проводить исследования методом фотоэлектронной спектроскопии внутренних уровней и валентной зоны, получать информацию об элементном и химическом составе наноструктурированных объектов с возможностью анализа профиля распределения элементов по глубине при помощи послойного травления ионным пучком. Система состоит из трех камер с возможностью экспресс-перезарядки образцов с атмосферы, не нарушая вакуумных условий. Система обеспечивает возможность формирования наносистем методом вакуумного осаждения непосредственно в процессе измерений. Имеется возможность контролируемого напуска газов, что позволяет формировать слои углеродосодержащих систем и монослоев графена методом крекинга углеводородов. Параметры установки позволяют проводить формирование наносистем “in situ” в чистых условиях и осуществить контроль за элементным и химическим составом. Базовое давление в камере анализатора – 10^-10 – 10^-11 торр. Энергия фотонов при измерениях методом рентгеноэлектронной спектроскопии – 1253.6 эВ.

3.      Фотоэлектронный спектрометр с угловым разрешением ADES-400

Спектрометр предназначен для изучения электронной структуры валентной зоны и дисперсионных зависимостей валентных электронных состояний различного типа поверхностных и низкоразмерных структур, а также для изучения спектров квантовых состояний и их изменений непосредственно в процессе формирования тонких пленок и квантовых объектов. Формирование изучаемых систем производится “in situ”, т.е. в том же объеме, где и проводится измерения, не нарушая вакуумных условий. Базовое давление в камере анализатора – 10^-10 – 10^-11 торр. В качестве источника излучения используется гелиевая лампа с энергий излучения 21.2 и 40.8 эВ. Для анализа структуры поверхности и формируемых низкоразмерных систем используется метод дифракции медленных электронов.

4.      Серия сканирующих зондовых микроскопов фирмы НТ-МДТ:

Solver-ProM, Solver Ntegra, Solver Next

Серия сканирующих зондовых микроскопов предназначена для изучения морфологии и структуры реальных металлических, полупроводниковых и диэлектрических наноструктурированных объектов, а также для изучения распределения по поверхности коэффициентов жесткости, упругости и магнитных характеристик наносистем. Ниже будут перечислены основные характеристики используемых в лаборатории атомно-силовых микроскопов

СОЛВЕР PRO-M – Воздушный Сканирующий Зондовый Микроскоп универсальный по своим функциональным и измерительным возможностям.

СОЛВЕР НЕКСТ – новейшая разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований. Полная автоматизация настроек и режимов измерений, моторизованное позиционирование образца с привязкой к системе видеонаблюдения, интеллектуальное программное обеспечение. Встроенные датчики обратной связи обеспечивают высокую точность позиционирования зонда и исключают возможные искажения изображения. Технология использования встроенных датчиков компенсирует неизбежное несовершенство пьезокерамики — нелинейность, крип и гистерезис. Две стационарные, автоматически устанавливаемые АСМ и СТМ головки обеспечивают большую свободу в выборе методик и условий измерений. Уникальная конструкция прибора позволяет при смене измерительных головок попадать в ту же область поверхности образца.

НТЕГРА Аура - НаноЛаборатория, специально созданная для работы в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума. НТЕГРА Аура разработана для осуществления с помощью методов высокоточных АСМ, ЭСМ и МСМ измерений, а также измерений адгезионных сил в условиях контролируемой атмосферы или низкого вакуума.

5.      Комплексный вторично-электронный и оже-электронный спектрометр

Спектрометр предназначен для изучения электронной структуры поверхности твердых тел методами оже-электронной спектроскопии, спектроскопии характеристических потерь энергии электронов, спектроскопии потенциалов появления, дифракции медленных электронов и интегральной вторично-электронной спектроскопии.

Основные направления исследований, развиваемые в лаборатории в настоящее время, и основные публикации за 2008-2012 годы сотрудников лаборатории в данных направлениях

1.      Изучение модификации электронной структуры низкоразмерных систем различного типа (2D – ультратонкие квантовые слои, 1D – упорядоченные ансамбли квантовых проволок и полосок, 0D – ансамбли нанокластеров). Квантование электронной структуры. Влияние квантово-размерных эффектов на модификацию электрофизических и магнитных свойств слоистых систем.

2.      Изучение спиновой структуры низкоразмерных систем. Эффекты индуцированной спиновой поляризации электронных состояний валентной зоны. Спинтроника.

3.      Изучение модификации электронной структуры графена и графен-содержащих систем при взаимодействии с различными металлами и синтезе на различных подложках. Низкоразмерные системы на основе различных аллотропных модификаций углерода.

4.      Изучение электронной структуры и локальной микротопографии практически важных металлических, полупроводниковых и диэлектрических систем.

5.      Формирование и изучение локальной атомной структуры кластеров металлов в системах на основе высокомолекулярных соединений.

Структура кафедры

В начало статьи

Главная

Объявления

Контакты

ENGLISH